デジタル画像関連技術（DIC）の測定は、最も正確な測定結果を得るために、試験片表面にランダムな高コントラストスペックルを作製することに依存する。実際には、スペックルがまばらすぎたり、密集しすぎたり、スペックルが大きすぎたりすると、測定された空間分解能が損なわれます。逆に、スペックルが小さすぎたり、重なったりすると、データがざわつく可能性があります。測定ノイズを低減し、不確定性を低減するためには、視野（FOV）スケールとカメラ解像度に合った理想的なスペックルパターンを作製する必要がある。VICスペックル調製キットの役割は、試料領域の正確な理解を必要とせずに、ユーザが簡単に理想的なスペックルを試料表面に調製できるようにすることである。このキットは使いやすく、柔軟で、各種VIC-2 DまたはVIC-3 Dシステムの応用シーンに適している。このキットは実際には、試料の製造が不適切であることによる潜在的な測定偏差を排除した。

デジタル画像相関（DIC）最も正確な結果を得るために、標本の表面に適用された高コントラストランダムパターンに依存します。実際には、パターンがあまりにも稀すぎ、あまりにも密集すぎ、または斑点があまりにも大きすぎると、測定の空間的解像度が損なわれます。逆に、スペックルがあまりにも小さい場合、エリアス化により、そのそのその結果、そのそのそのその結果、逆逆に、逆逆に、スペックルがあまりにも小さすぎる場合、エリアス化ノイズを減らし,不確実性を減らすために,望ましい視野 (FOV) とカメラ解像度に対する理想的なスペックルパターンを適用する必要があります. 「 TheVICスペックルパターンアプリケーションキットユーザーは簡単に任意の試料の表面に理想的なパターンを適用することができます精密サンプル領域の知識このキットは使いやすく柔軟で,VIC-2DまたはVIC-3Dシステムに適した幅広いアプリケーションに利用できます.このキットは,サンプル準備の不良による潜在的なバイアスをほぼ排除します.

CSI社が提供するスペックルパターン製造キットには、新旧のDICユーザーが使用するための一連のツールが含まれており、理想的なスペックルパターンを迅速に作成することができます。異なるビューフィールドとイメージコレクタの解像度の組み合わせに対して、スペックルパターンの寸法推奨表も提供されます。キットに含まれるものを以下に示します。

Correlated Solutionsのスペックルアプリケーションキットは,新しいDICユーザーと経験豊富なユーザーにとって,理想的なスペックルパターンを迅速に作成するために使用できます.複数の視野とセンサー解像度の組み合わせのためのスペックルサイズ提案テーブルも提供されています.キットに含まれている項目は以下に示されてリストされています。

6つの自動インキ塗布装置付きインプリントローラ 6つの交換可能なコロイド転写シートと1つのアクリルハンドル 1つのインクパッドカートリッジと1本の追加補充インク ハードウェアはユーザーのニーズに合わせてカスタマイズしてより大きなスペックルパターンを作成できます セルフインキングインサート付き6つのスタンプローラー 1つのアクリルロッカー付き6つの交換可能なスタンプ インクの余分なボトルを持つ1つのインクパッド 要求に応じて大きな点を作成するハードウェア

市場には多くのスペックルパターン製造技術が存在しているが、その多くは不一致または規範的なスペックルパターンのサイズを提供しており、これは不一致の結果をもたらすだろう。繰り返しテストを実行すると、これは特にがっかりする可能性があります。CSI社のVICスペックル製造キットを用いて生成されたスペックルサイズは繰り返し可能で一貫しており、精度が予測および制御可能なスペックルパターンを迅速に作成することができ、それによって最高レベルの一貫性と正確な結果を実現することができる

スペックルパターンの適用技術には幅広い範囲があるが、多くはサンプルからサンプルに不一致したドットサイズを提供し、不一致した結果をもたらします。これは、繰り返しテストを行うときに特に挫折感があります。繰り返し可能なドットサイズを作成するVICスペックルパターンアプリケーションキットfrom Correlated Solutions は,予測可能で制御可能なスペックルパターンを迅速に作成する能力を提供し,最高レベルの正確で一致した結果を可能にします.

スペックルパターンの品質が測定に重要な理由なぜスペックルパターンが重要なのでしょうか？

理想的なスペックルパターンは高コントラストであり、スペックル分布はランダムであり、スペックルサイズの大きさは一致し、試験片表面上の白黒分布密度は等量である。これらの条件をすべて満たすと、私たちの測定上の関心領域は、ノイズ制御非常に低いレベルで、非常に高い誤差決定度で追跡測定を行うことができます。

理想的なスペックルパターンは、高いコントラストで、ランダムなスペックル、一致したドットサイズ、およびサンプルの表面に同等の量の黒と白を含んでいます。これらの条件がすべて満たされた場合,関心のある領域は低レベルのこれこれノイズを生み出し,非常に高いレベルの確実性で追跡することができます.

以下は各種スペックルパターンが測定ノイズにどのように影響するかの例である。中間領域のパターンはVICスペックル製造キットのドラムを使用して作成され、他の2つの外側領域のパターンは塗装を使用して作成されます。ご覧のように、スペックルパターン製造キットからのドラムは、黒と白の被覆率が約50%の高コントラストパターンを生成していますが、スプレーで作成されたパターンはコントラストが低く、サイズが一致しないスペックルパターンのみを持っています。

以下は、さまざまな斑点パターンが測定測測測定以下の測定ノイズにどのように影響を与えるかの例です。中間のパターンは、ローラーから作成されました。VICスペックルパターンアプリケーションキット両側のパターンはスプレーペイントで作成された。ご覧のように、スペックルパターンキットからのローラーは、約50％のブラックとホワイトのカバージャーを持つ高コントラストパターンを生み出し、塗装されたパターンは、不一致したドットサイズで低コントラストパターンを生み出します。

図示1：3種類の異なるスペックルパターンを有する平板のZ値信頼度解析

図1:変数Sigma_Zを示すために分析された3つの異なる斑点パターンを持つ比較的平らなプレート

図1は、Z方向における測定（オフセット形状測定）の信頼性を示す変数Sigma _ Zの2次元データ重畳を示す。Sigma値がゼロに近いほど、表示されている数値は正しい値である可能性があります。左側の領域パターンはコントラストが低く、繊細すぎるため、Sigma _ Z値が大きくなり、信頼度が低いことを示しています。中間領域は低いSigma _ Z値を示し、これは測定に対して高い信頼性があることを示している。図ではその結果が明らかになっている。

図1は,変数Sigma_Zの2Dデータオーバーレイを示し,これはZ方向 (平面外形状測定) で取られた測定の信頼marginです.シグマがゼロに近いほど,統計的に示された値が実際に正しい値である可能性が高くなります.外部パターンはコントラストが低く,過度に細かく,Sigma_Z値が大きくなり,信頼性が低いことを示します.中央のパターンは,測定に対する高い信頼性を示す低いSigma_Z値を示しています.結果は自分自身を語る。

【図2】Sigma _ Zの3 D図は、差のあるスペックルが低信頼区間とノイズをもたらす形状測定結果を示している

図2:Sigma_Zの3Dグラフは,悪いパターンが低い信頼margenと低低いシシシシャープ測定のSigSigSigSigma_ZのSigSigSigSigSigma_Zの3Dグラフを示しています.

信頼度シグマ値が重要なのはなぜですか？

VIC−2 DおよびVIC−3 Dにおける高Sigma値は、より高い測定不確定性を示し、これは、形状、変位、および歪みデータにおける測定ノイズの増加をもたらす可能性がある。図2に示すように、両側領域は平らなサンプルのZ値範囲よりも大きく、中心領域の表示のばらつきは小さい。

VIC-2DおよびVIC-3Dの高いシグマ値は,測定の不確実性が高いことを示し,形状,位移,およびストレンデータの測定測測測測定ノイズが増加することができます.図2に示されているように,外部パターンは比較的平らなサンプルのZ値のより大きな範囲を示し,中央パターンはより小さなバイアスを示しています.

以下の図3には、剛体回転後の変数exxのデータ（X方向の横方向歪み）が表示されており、その結果、0歪みとなるはずである。一方、ひずみ雲図に表示されるひずみ値の範囲は両側外部領域の結果が中心領域よりずっと高く、両側の局所領域の測定が存在してはならないひずみ騒音の結果を生んだことを示し、これは不正確なデータを招くことができる。これは、差のあるスペックルパターンがノイズ影響測定にどのように影響するかをよく説明することができ、良いスペックルパターン（スペックルパターンを適用する）はより良い結果をもたらすことができます。

下の図3では,変数exx (X方向の横向張力) のデータは,張力はゼロであるべきである固体翻訳後の同じプレートのデータを示しています.コンチュア・プラットに示されているストレン値の範囲は,中央パターンよりも外部パターンではるかに高い.その結果,外部パターンのローカルストレンス測定はより外外外部パターンのローカルストレンス測定は,より結結果的に,より正確でないデータを生成することが示されています.これは,悪い斑点パターンが悪悪い測定を引き起こすことができるかどのように良い例であり,有利なパターン (斑点キットで適用) は,より良い結果を得ることができます.

VICスペックル調製キットを使用することで、ユーザーが最適なスペックルパターンを得るのを助けることができ、結果のノイズが少なく、データがより正確になります。

最適なスペックルパターンを適用してVICスペックルパターンアプリケーションキット結果は音が少なく、より正確になります。

図示3：剛体偏向後に表示される横方向歪み情報。外側のスペックルの品質が悪いため、プレートの外側はプレートの中央部よりもはるかに高いノイズを示しています。

図3：横向の張りは硬体の翻訳後に示されています。プレートの外側は,不良な斑点パターンにより,プレートの中央よりもはるかに高いレベルのププププレートのプププレートのプププレートの外側はププレートプレートの中央よりもはるかに高

VICスペックルパターン作成キットにより測定結果が向上「 TheVICスペックルパターンアプリケーションキットあなたの結果を改善します:

Correlated Solutions，Inc.社のVICスペックル調製キットは、測定結果が非常に低いノイズと非常に高いDIC測定結果の信頼性を維持するのに役立ちます。スペックルパターン作成キットは、新しいユーザーと経験のあるDICユーザーに同等の能力を与え、ほとんどのレンズと画像コレクターを組み合わせた異なるサイズの視野に理想的で反復可能なスペックルパターンを作成することができます。この機能を持つことで、試験品の製造過程を簡略化し、繰り返し試験結果の一貫性を確保し、すべての測定のためにVIC-2 DまたはVIC-3 Dシステムと協力して一貫した低歪ノイズを得ることができる結果。

「 TheVICスペックルパターンアプリケーションキットCorrelated Solutions, Inc.からは,DIC測定の非常に低非常非常に低DIC非常に高い信頼性の結果を得ることができます.スペックルキットは新しい両方を可能にしますそして経験豊富なDICユーザーは,ほぼすべてのレンズとセンサーサイズの組み合わせのための多くの視野のために理想的で繰り返し可能なパターンを作成します.この機能を持つことで,サンプル準備プロセスを簡素化し,繰り返しテストのための一致したパターンを確保し,VIC-2DまたはVIC-3Dシステムで取得したすべての測定のために一致した低ストレンノイズフローアを得る手段を提供できます.

VICスペックルツールキットパラメータVICのスペックルパターンの指定: