SRS-NDVI測定器冠状層正規化植生指数(NDVI)に近接した場所で長期定位モニタリングを行うことができる。NDVIは緑色植生に敏感であり、植生の成長状態の研究によく用いられる。SRS-NDVI測定器センサーの製作技術は洗練され、頑丈で耐久性があり、各種の悪天候条件下で正常に動作することができる、その体積は小さく、取り付けが簡単で便利である、性価格比が高いので、複数の場所に配置することができます。
動作原理
NDVIは、クラウン層の近赤外波長(810 nm)に対する反射率と赤光波長(650 nm)に対する反射率の差の和から計算されるため、クラウン層の2つの波長に対する反射率を監視するために上下2つのセンサを同時に設置する必要がある。
上向きSRS−NDVIセンサは810 nmと650 nmの光照射強度を検出する。測定結果は空からの入射光強度を表している。センサは余弦補正を経て、半球視野を持っている。設置時には、視野内に空だけがあり、冠状物や他の地物がないことを保証しなければならない。
下向きSRS−NDVIセンサも810 nmと650 nmの光照射強度を検出する。測定結果はクラウン層からの反射光強度を表している。センサの視野範囲は36°以内に限定され、これによりセンサは測定対象のクラウン層に正確に向かうことができる。
製品の特徴
消費電力が低い
せいかひが高い
SDI-12またはDDIシリアル通信プロトコルをサポートする
データの自動測定、収集
航海級エポキシ樹脂封止技術、湿熱環境で長期使用可能
ZL 6データコレクタを使用すると、インターネット端末を介してリモートデータの表示とダウンロードが可能
応用分野
単株植物または群落冠層の正規化植生指数(NDVI)動態モニタリング
植生の若返り、老化、ストレス状態のモニタリング
クラウン有効放射線遮断量
冠状成長物候モニタリング
クラウン葉面積指数
クラウンバイオマス蓄積
技術仕様
| NDVIバンド | 波長ピーク:650±2 nmと810±2 nm、半値幅(FWHM)はいずれも10 nm |
| せいど | スペクトル放射照度と放射輝度値の10%より優れている |
| 電子光学モジュール | (1)テフロン余弦補正器、半球視野 (2)視野絞り:視野範囲36° |
| キャリブレーション | 米国に準拠する家標準及び技術研究所標準(NIST traceable)スペクトル放射照度(Wm-2nm-1)または放射輝度(Wm-2nm-1sr-1) |
| 測定時間 | 〜600 ms |
| サイズ | 43×40×27mm |
| 重量 | センサ:47 g、センサバンド5 m線:170 g |
| 電力供給 | 3.6 ~ 15 VDC,測定期間(300 ms)4 mA、測定待ち期間30µA |
| 動作温度 | -40~50℃ |
| ケーブル長 | 標準5 m、その他の長さをカスタマイズ可能 |
| インタフェースタイプ | 3.5 mmイヤホンコネクタまたは錫メッキベアワイヤコネクタ |
| 通信 | SDI-12デジタルセンサ |
| 数採を支持する | METER ZL 6、Em 50シリーズ、EM 60シリーズ数采、ZSC、ProCheck。CSI数採取 |
注文ガイド
センサー:SRS-NDVI上向き半球視野センサ、SRS-NDVI下向き視野絞りセンサ
採掘を数える:ZL 6データコレクタ。
オプション部品
エクステンションアーム:1 mの長アルミニウム管、センサーの基礎施設への固定を補助でき、ほとんどの四角形または円形の位置と直径2インチ以下の管を接続できる
マルチセンサホルダ:複数のセンサを1つのホルダに固定でき、上向きのセンサ1つと、下向きのセンサ3つを推奨し、下向きのセンサ取付方向を90°の角度にする

他にオプションがあります。
産地とメーカー:アメリカメーター会社(元Decagon)
