遠方VNF-200 VCSEL近接場特性分析計はVCSELの表面近接場特性分析のために設計され、測定速度が速く、光学分解能が高く、測定精度が高い特徴を兼ね備えている。計器は顕微光学系とイメージングシステムを結合する方式を採用し、VCSELの特性に基づいて設計を最適化し、VCSELの高倍率顕微イメージング放射線分析を実現する。1回の測定によりVCSEL表面の2次元アレイ配置、壊点検出及び放射輝度データを得、同時に1点サイズを得た。専用分析ソフトウェアを搭載し、標準に準拠したテストレポートを出力できます。生産ライン及び実験室におけるVCSEL表面特性の迅速、正確な分析に適用する。