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RTP-80 CT高低温試験箱
RTP-80 CT高低温試験箱は主に電子電気工学、自動車オートバイ、航空宇宙、高等大学、科学研究機関などの業界と分野に応用されており、それと恒温恒湿箱の違いは湿度関連の試験をすることができないことである
製品の詳細

RTP-80 CT高低温試験箱は主に電子電工、自動車オートバイ、航空宇宙、高等大学、科学研究機関などの業界と分野に応用されており、恒温恒湿箱との違いは湿度に関する試験をしてはならないことである。

RTP-80 CT高低温試験箱は試験基準を満たす

①GB/T 2423.1-2001試験A:低温試験方法

②GB/T 2423.2-2001試験B:高温試験方法

③GJB 150.3-1986高温試験

④GJB 150.4-1986低温試験

⑤IEC 68-2-1試験A:寒さ.

⑥GB 11158「高温試験箱技術条件」。

⑦GB/T 2423.2「電工電子製品基本環境試験規程試験B:高温試験方法」。

RTP-80 CT高低温試験箱のプログラム容量及び制御機能

使用可能なプログラムグループ:最大120 PATTEN。

使用可能なメモリ容量:合計12000 SEGMENTS。

繰り返し実行可能なコマンド:各コマンドは999回に達することができます。

プログラムの作成は対談式を採用し、編集、消去、挿入などの機能を持つ。

SEGMENTS時間は0~999 Hour 59 Minに設定します。

電源遮断プログラム記憶があり、復電後に自動的に起動し、接続してプログラムを実行する機能がある。

RS-232通信及びUSBインタフェースを備えている。

程(てい)シーケンス実行時にグラフィックカーブをリアルタイムで表示できます。

予約起動とシャットダウン機能があります。

キーおよび画面ロック(LOCK)機能を押します。

RTP-80 CT高低温試験箱技術パラメータ:

うちがたすんぽう

W400*H500*D400mm

外形寸法

W600*H1550*D1100mm

外壁材料

ステンレス板SUS#304

内壁材料:ステンレス板SUS#304

おんどはんい

-10℃→+150℃(任意設定可)

おんどへんどうど

±0.5℃

おんどへんさ

±2.0℃

けいりょうそくてい

内箱壁内の寸法の1/10箇所からSENSOR配置点を測定する

しょうおんじかん

-100℃→+150℃空荷条件下での非線形昇温に約100分

かねつじかん

+20℃→-100℃空荷条件下での非線形降温に約130分

負荷状況

むふか

低温80L-

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