JW−ZQ静的容量法蒸気吸着器-グローバルベンダー

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JW−ZQ静的容量法蒸気吸着器

JW-ZQシリーズは物理吸着計において、吸着質が常温常圧下で液状で存在する場合、吸着質を液状から気状に変換し、試験システムに投入して等温吸着曲線試験、いわゆる蒸気吸着試験を行う必要がある

製品の詳細

JW-ZQシリーズ

物理吸着器において、吸着質が常温常圧で液状で存在する場合、吸着質を液状から気状に変換し、試験システムに投入して等温吸着曲線試験、いわゆる蒸気吸着試験を行う必要がある。

製品の概要

吸着ガス源としての蒸気発生器付き

外気室ステンレスモジュール、恒温箱付き（室温-50°C）

蒸気吸着システム、真空引き時にコールドトラップを通過する

シールはパーフルオロOリングを採用

低温窒素吸着法、比表面及び孔径分布試験

各種ガスと蒸気の吸着等温線試験

とうりょうきゅうちゃくねつそくてい

ガス選択吸着係数測定

構造比較

モデル	ZQ200C	ZQ100C	ZQ200B
スチームジェネレータ	1つ
スチームステーション	1個（1/0.1 Torr）
マイクロホールステーション	1個（1/0.1 Torr）	なし
センサ	7個	5個	4個
コールドトラップ	1つ	2個
前処理ビット	なし（その場で処理可能）	2個
こうおんすいよく	1個（0-50°C）
1 L液体窒素カップ	2個	なし
3 L液体窒素カップ	1つ	2個	3個
メカニカルポンプ	耐食性ポンプを1つ含む	2個（耐食性ポンプ1個含む）	耐食性ポンプ×1またはメカニカルポンプ×1
ぶんしポンプ	1つ		なし

主なパラメータ

モデル	ZQ200C	ZQ100C
テスト原理	せいてきようりょうほう
ぶつりてききゅうちゃくせい	比表面≧0.01 m 2/g メソポーラス：2-500 nm（BJH法）マイクロホール：0.35-2 nm（tグラフ法、DR法、MP法、DA法、HK法、SF法、NLDFT)
ぶつりてききゅうちゃくぶっしつ	窒素、アルゴン、クリプトン、二酸化炭素等
蒸気吸着質	一酸化炭素、アンモニアガス等のその他及び常温で液体であるもの（強い腐食、猛毒、危険ガスを除く）
物理吸着温度	77K、87K
蒸気吸着温度	0-50°C
蒸気回収	分析位蒸気冷トラップ回収	分析ビットと前処理ビット、二重冷トラップ蒸気回収
前処理	真空その場前処理	前処理ビット+その場真空処理

その他のパラメータ

ガス発生器	吸着質が常温常圧で液体である場合、他の発生器により形成できる吸着質蒸気は、ガス吸着試験を行う要求を満たす
きゅうちゃくあつりょく	P/P 0＜1（吸着温度におけるP 0吸着質の飽和蒸気圧）
しんくうシステム	輸入特殊腐食二段旋型真空ポンプ、限界真空10-1Pa、分子ポンプ、限界真空10-8Pa
あつりょくセンサ	1000 Torr、10Torr、1Torr
きゅうちゃくおんど	液体窒素カップは液体窒素温度試験条件を提供し、半導体恒温水浴は0°-50°試験条件を提供する
吸気量	4 xn個（4、8、12）の独立吸気口を提供するように顧客の要求を満たす
ガス回収	有害ガスをコールドトラップで回収（コールドトラップ温度77 K）し、環境と機械ポンプ油を汚染から守る
前処理	真空その場前処理、温度≦400°C±1°C

方法の比較

コンテンツの比較	ようりょうほう	じゅうりょうほう
げんりてきアプローチ	容量法、圧力センサガス方程式計算	重量法、超高精密天秤の直接読み取り、直観
サンプル試験システム	体積が小さく、構造がコンパクトで、恒温しやすく、腐食しにくい	体積が大きく、温度均一性が悪く、天秤が腐食しやすい
機能	圧力はP/P 0<0.1の時に多点吸着曲線があり、使用蒸気量が小さく、マイクロリットル級、テストは気流の影響を受けず、データは安定している。 BET、開口試験機能を有する、	P/P 0<0.1ではテストできません。少なくとも100ミリリットルのガス量が必要である、天秤は気流の影響を受けやすく、データの変動が生じやすい、この機能はありません。
前処理	その場で前処理可能	その場で前処理できない
効率性	テスト速度が速いテスト圧力点が多い	テスト速度が遅いテスト圧力点が少ない
環境条件	要求が高くない	環境の微小振動に非常に敏感である
蒸気消費	消費量が極端に少ない	消費量が多い
価格	構造がシンプルで低コスト	構造が複雑でコストが高い

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