深セン市博納徳精密機器有限公司
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IP 1 XIP 2 XIP 3 XIP 4 X試験球線棒深セン試験具ABCD試験指、棒、ピン
簡単な紹介:IP 1 XIP 2 XIP 3 XIP 4 X試験球線棒深セン試験具ABCD試験指、棒、ピンはGB/T 4208-2008、IEC 61032:1997、IEC 60529:2001及びULなどの該当条項に基づいて作成された。家庭用及び類似用途の電気機器の感電防止保護試験を行うために必
製品の詳細
詳細:

IP 1 XIP 2 XIP 3 XIP 4 X試験球線棒深セン試験具ABCD試験指、棒、ピン


製品名称:IP 1 X試具A

製品型番:BND-A


二、技術パラメータ:

1、探球直径:50 mm

2、バッフル直径:50 mm

3、バッフル板の厚さ:4 mm

4、ハンドル直径:10 mm

5、ハンドルの長さ:100 mm

6、IEC 61032図1(Test probe A)、GB/T 4208-2008表6(**ビット特徴数字1)による。


製品名称:IP 2 X試験曲げ指

製品型番:BND-B

技術パラメータ:

曲げ指直径:12 mm

曲げ指の長さ:80 mm(3節全長)

バッフル直径:50 mm

バッフル長さ:100 mm



製品名称:IP 3 X試具C

製品型番:BND-C

技術パラメータ:

1、プローブ長さ:100 mm

2、プローブ直径:2.5 mm

3、シフトボール直径:35 mm

4、ハンドル直径:10 mm

5、ハンドルの長さ:100 mm

6、IEC 61032図3(Test probe C)、GB/T 4208-2008表6(*ビット特徴数字3)による。


製品名称:IP 4 X試具D

製品型番:BND-D

技術パラメータ:

1、プローブ長さ:100 mm

2、プローブ直径:1 mm

3、シフトボール直径:35 mm

4、ハンドル直径:10 mm

5、ハンドルの長さ:100 mm

6、IEC 61032図4(Test probe D)、GB/T 4208-2008表6(*ビット特徴数字4/5/6)による。


IP 1 XIP 2 XIP 3 XIP 4 X試験球線棒深セン試験具ABCD試験指、棒、ピン

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