高加速試験は一般的に宝加速寿命試験と高加速応力応力スクリーニング試験に分けられ、高加速寿命試験（Highly Accelerated Life Testing、略称HALT試験）は高速高、低温変換の振動システムを利用して電子と機械組立品の設計欠陥と不足を明らかにする過程である。HALTの目的は製品開発の初期段階で製品の機能と破壊限界を識別し、それによって製品の信頼性を最適化することである。HALTは合格または不合格のテストではなく、設計エンジニアに協力して製品の信頼性を改善するツールであり、事前に限界を設定しておらず、限界は製品によって決定され、徐々に応力を増加させ、失効するまで、試験中に製品を監視する必要がある。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試験製品はHALT試験により操作または破壊限界値を得た後に行った高加速応力スクリーニングであり、応力はHALT試験より低かった。

広電計量は複数台のHALT試験箱を持ち、いずれも輸入Qualmarkブランドであり、展開可能なHalt/Hass試験、以下を含む：低温ステップ応力試験、高温ステップ応力試験、振動ステップ応力試験、高速熱循環試験と総合応力試験、これらの試験過程において、往々にして製品のオン/オフ、電圧位置の偏在、周波数の偏在などの作業応力を伴っている。

電工電子、計器、自動車及び宇宙製品のモジュール、通信端末、部品及び機械全体などのためにHalt/Hass試験を展開することができる。

GB/T 29309；

DKBA 1141「通信製品HALT試験規範」。