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D830-PS- Dxx30-SI溶接入先端(Qty. 2)、Dxx30-SP正方形ピン(Qty. 1)およびDxx30-PT-KITポジショナー先端ブラウザ(Qty. 1)の8GHz完全なプローブシステム |
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D1030-PS- Dxx30-SI溶接入先端(Qty. 2)、Dxx30-SP正方形ピン(Qty. 1)およびDxx30-PT-KITポジショナー先端ブラウザ(Qty. 1)を備えた10GHz完全なプローブシステム |
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D1330-PS- Dxx30-SI溶接入先端(Qty. 2)、Dxx30-SP正方形ピン(Qty. 1)およびDxx30-PT-KITポジショナー先端ブラウザ(Qty. 1)を備えた13GHz完全なプローブシステム |
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D830 の- WaveLink D830 8 GHz/3.5Vp-p差分プローブ放大器 Dxx30-SI溶接入り先(Qty. 2)とDxx30-SP正方形ピン(Qty. 1) |
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D1030- WaveLink D1030 10 GHz/3.5Vp-p差分プローブ放大器 Dxx30-SI溶接入り先(Qty. 2)とDxx30-SP正方形ピン(Qty. 1)。 |
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D1330 の- WaveLink D1330 13 GHz/3.5Vp-p差分プローブ放大器 Dxx30-SI溶接入り先(Qty. 2)とDxx30-SP正方形ピン(Qty. 1) |
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WL-PLINK-ケース- D610、D620、D600A-AT、およびDxx30 WaveLinkプローブ用のWaveLink ProLinkプラットフォーム/ケーブルアセンブリキット。 |
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Dxx30-PT-キット- WaveLink Dxx30-PT(10GHzまでの評価)調整可能なポジショナーチップキット。Dxx30アンプとの使用 |
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DXX30-SMA-SMP-リード- Dxx30放大器で使用するためのWaveLink Dxx30-SMA-SMP-LEADSで構成されたリードセット。 |
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DXX 30-si- 取り替えDxx30-SI 8-13 GHz溶接のQtyのQty。5 予備抵抗器。 |
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EZ プローブ- カスケード マイクロテク EZ プローブ ポジションナー |
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TF-DSQ- プローブデスクビューおよび校正試験固定器の限定された利用可能性 |
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D830-CCNIST型- D830のためのNIST校正。テストデータが含まれています。 |
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D1030-CCNISTについて- D1030のためのNIST校正。テストデータが含まれています。 |
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D1330-CCNISTについて- D1330のためのNIST校正。テストデータが含まれています。 |
主な機能
・8 GHz、10 GHz、13 GHz帯域幅オプション
・3.5 Vpk-pkダイナミックレンジ
・±4 Vバイアス範囲
・プローブシステム(−PSモデル)は完全な能力を提供する
・DDR 3、DDR 4、LPDDR 3の理想的な試験プローブ
・高級携帯用ソフトバッグ
・複数種類のプローブフロントエンド
・溶接先端
・点測先端
・SMA/SMPフロントエンド
・正方形ジャック先端
・SMA/SMPフロントエンドキットは差動増幅器を購入する必要がない
ウェイブリンク中高帯域幅(8-13(GHz)プローブ
Dxx 30 8〜13 GHzにおける高帯域幅差分プローブは、高いダイナミックレンジとバイアスレンジを有する汎用試験プローブである。
完全なプローブシステム
差動増幅器、溶接先端(X 2)、正方形ジャック先端、点測定先端、ケーブル、一致する接続部分、ブラケット、その他の付属品を含む高価格の総合プローブキットは、プローブと付属品を1つの携帯用ソフトバッグに包装し、必要な帯域幅を簡単に選択することができます。
高ダイナミックレンジとバイアスレンジ
高帯域幅、高入力ダイナミックレンジ、および大バイアス範囲により、Dxx 30はDDRのテストに最適になります。
高級携帯用ソフトバッグ
高度な携帯用ソフトバッグは、プローブシステムのすべての部分を梱包するのに便利です。
多種多様なフロントエンド
溶接先端、点測先端、正方形ジャック先端とSMA/SMP先端をサポートし、柔軟に接続方式を選択することができる。
SMA/SMPフロントエンド
Dxx 30 SMA/SMPフロントエンドは、Dxx 30アンプとSMA/SMPコネクタを接続します。
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モデル |
帯域幅 |
にゅうりょくどうでんあつ |
コモンモード電圧 |
バイアス電圧 |
減衰 |
DCインピーダンス |
オシロスコープインタフェース方式 |
被測定物を接続する方法 |
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WL-2.92MMケース |
プロリンク |
|||||||
|
-D2505型 |
25GHz の |
2.0Vpk-pk |
±4V |
±2.5V |
4.5x |
差分1 k№ コモンモード100 k№ |
|
溶接式、点試験オプション |
|
D2005 |
20GHz の |
2.0Vpk-pk |
±4V |
±2.5V |
4.5x |
差分1 k№ コモンモード100 k№ |
|
溶接式、点試験オプション |
|
WL-PLINK-Aケース |
プロリンク |
|||||||
|
-D1605型 |
16GHzの |
2.0Vpk-pk |
±4V |
±2.5V |
3.5x |
差分1 k№ コモンモード100 k№ |
|
溶接式、点試験オプション |
|
-D1305型 |
13GHzの |
2.0Vpk-pk |
±4V |
±2.5V |
3.5x |
差分1 k№ コモンモード100 k№ |
|
溶接式、点試験オプション |
|
WL-PLINK-ケース |
プロリンク |
|||||||
|
-D1330型 |
13GHzの |
3.5Vpk-pk |
±5V |
±4V |
3.75x |
差分200 k№ コモンモード50 k№ |
|
溶接式、点試験オプション |
|
-D1030 |
10GHz の |
3.5Vpk-pk |
±5V |
±4V |
3.75x |
差分200 k№ コモンモード50 k№ |
|
溶接式、点試験オプション |
|
D830型 |
8GHz の |
3.5Vpk-pk |
±5V |
±4V |
3.75x |
差分200 k№ コモンモード50 k№ |
|
溶接式、点試験オプション |
|
・D600A-AT |
7.5GHzの |
±2.4V |
±2.4V |
0 |
2.5x |
4 kΩ |
|
調整可能な間隔、ポイントテスト |
|
・D500PT |
5GHz の |
±2.4V |
±2.4V |
0 |
2.5x |
4 kΩ |
|
調整可能な間隔、ポイントテスト |
|
・D610-PT |
6GHz の |
±1.25V |
±4V |
±3V |
1.5x |
100 kΩ |
|
調整可能な間隔、ポイントテスト |
|
・D620-PT |
6GHz の |
±2.5V |
±4V |
±3V |
2.5x |
100 kΩ |
|
調整可能な間隔、ポイントテスト |
|
D610型 |
6GHz の |
±1.25V |
±4V |
±3V |
1.5x |
100 kΩ |
|
溶接式、ジャック式等 |
|
D620型 |
6GHz の |
±2.5V |
±4V |
±3V |
2.5x |
100 kΩ |
|
溶接式、ジャック式等 |
|
WL-Pbus-ケース |
プロバス |
|||||||
|
・D300A-AT |
3GHz の |
±2.4V |
±2.4V |
0 |
2.5x |
4kΩ |
|
調整可能な間隔、ポイントテスト |
|
・D410-PT |
4GHz の |
±1.25V |
±4V |
±3V |
1.5x |
100kΩ |
|
調整可能な間隔、ポイントテスト |
|
・D420-PT |
4GHz の |
±2.5V |
±4V |
±3V |
2.5x |
100kΩ |
|
調整可能な間隔、ポイントテスト |
|
D410型 |
4GHz の |
±1.25V |
±4V |
±3V |
1.5x |
100kΩ |
|
溶接式、ジャック式等 |
|
D420型 |
4GHz の |
±2.5V |
±4V |
±3V |
2.5x |
100kΩ |
|
溶接式、ジャック式等 |
|
ZD1500 |
1.5GHzの |
±8 V |
±10V |
±18 V |
|
120 kΩ |
|
ジャツク式 |
|
ツダ1000 |
1 GHz の |
±8 V |
±10V |
±18 V |
|
120 kΩ |
|
ジャツク式 |
|
Zd500 |
500MHzの |
±8 V |
±10V |
±18 V |
|
120 kΩ |
|
ジャツク式 |
|
AP033 |
500MHzの |
±40 V |
±42 V |
±40 V |
|
1M |
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ジャツク式 |
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