基準を満たす：性能指標はGB 5170、2、3、5、6-95「電工電子製品環境試験設備基本パラメータ検定方法低温、高温試験設備」の要求を満たす
電工電子製品基本環境試験規程試験A：低温試験方法GB 2423.1-89（IEC 68-2-1）
電工電子製品基本環境試験規程試験B：高温試験方法GB 2423.2-89（IEC 68-2-2）
電工電子製品基本環境試験規程試験Da：高低温交番試験方法GB/T 423.4-93（IEC 68-2-30）


試験箱寸法：内寸法：高さ600*幅600*奥行き600 mm*2
低温箱-40℃～常温、高温箱：150℃、90%
電圧：380 V
出力：9 KW
上下限高低温：+150℃~-40℃
昇温速度：2℃～4℃/min（常温から高温、非線形空荷に上昇）
降温速度：0.7℃～1.0℃/min（常温から高温、非線形空負荷に上昇）
解析精度：温度：±0.01℃
温度変動度：±0.2℃
温度均一度：±1.0℃
密封性能：2本の断熱気密が迫っており、箱体内外の熱交換を効果的に遮断する
観測ウィンドウ：3層の真空ガラスで、試作品の使用を観察しやすい。サイズ：270 x 360 x 40 MM
照明設計：高輝度窓照明ランプ、試品を観察しやすい
試験孔：機体左側ψ50 mmステンレス孔付きカバー1本