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CLJ-BIIデスクトップレーザダスト粒子カウンタ
CLJ-BIIデスクトップレーザダスト粒子カウンタ
製品の詳細

このシリーズの計器の技術指標はすべて国家計量総局が公布したJJF 1190-2008検定規程の要求を満たし、機械全体の機能は米国のマイクロコンピュータ制御処理技術及び国際的に最も先進的なSMTチップチップパッチパッケージ技術と半導体レーザーセンサー技術及び騒音防止空気ポンプを採用し、直接検査結果を印刷することができる。機能が多く、測定精度が高く、速度が速く、携帯しやすく、操作が簡単などの特徴がある。計器は一度にサンプリングして同時に多種の粒径の塵埃粒子数を測定することができて、そしてその中のある粒径粒子の数とその変化状況を選択して観察することができて、各種の清浄環境を研究、検査、評価するのに非常に便利である。このシリーズの計器の性能設計は先進的で、品質は安定して信頼性がある
このシリーズ製品はクリーンルーム検査に広く応用されている。フィルターの現場検査、漏れ拾い、超清浄作業台、生物安全キャビネット、HVACシステム、コンピュータ室、飲料包装環境、医療機器生産環境、病院クリーン手術室、自動車塗装環境マイクロエレクトロニクス、製薬、生物化学製品、食品衛生、ファインケミカル、精密機械、航空宇宙などの生産と科学研究部門を監視することができ、製薬企業とその監督管理部門がGMP規範と電子生産企業を貫徹する第一選択器械である。

主な技術パラメータと性能:

1.光源:全半導体レーザ光源

2.サンプリング量:2.83 L/min(0.1 cfm/min)

3.検査範囲:100級~100万級

4.被試験空気の含塵濃度≯10万粒/2.83 Lを許容

5.粒径チャンネル:0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0(μm)6速
6.2.83リットル/分に含まれる粒子を1 m 3に変換することができる粒子の数を表示または印刷する。

7.サンプリング周期:1〜10(min)

8.自浄時間:≦15(min)

9.校正:遡及可能米国国家標準技術協会(NIST)、当社はすでに国家計量建標審査を通過し、遡及可能上海計量測量技術研究院は自ら校正または第三者国家計量機構に校正を行うことができる

10.作業環境:温度:10〜35℃相対温度:20〜75%RH

11.消費電力:25 W

12.温度と湿度を測定する範囲と精度:(オプション)

(1)温度:0~50℃±1℃

(2)湿度:0~100%RH±5%

13.サンプリング点数2~7点設定

14.1点あたりのサンプリング回数2~9回設定

15.UCLレポート:FS-2009 E、中国GMPの基準を満たす

16.作業時間:8時間

17.電源:AC 220 V±10%50±2 Hz

18.重量:4.8 kg

19.外形寸法:260×130×340

20.6速粒子径塵埃濃度を同時に測定し、順次デジタル表示または自選粒子径表示を行う。

21.備考:プリンタ内蔵、浄化レベル自動判断、等動力サンプリングヘッド、サンプリングラック

(温湿度プローブはオプション)

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