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昆山友碩新材料有限公司
>製品>Axio Imager 2蔡司光学顕微鏡
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Axio Imager 2蔡司光学顕微鏡
Axio Imager 2蔡司光学顕微鏡高級材料研究のための顕微鏡システムは操作性を顕微鏡ワークフロー-Axio Imager 2に導入し、品質検査とプロセス制御の中で正確さを提供することを確保する
製品の詳細

商品の詳細

Axio Imager 2蔡司光学顕微鏡高度な材料研究のための顕微鏡システム

操作性をマイクロワークフロー-Axio Imager 2に導入することで、品質検査とプロセス制御において正確で再現性のある結果を提供することができます。

Axio Imager 2は優れた光学レンズと均一照明の特性を持っている。観察方法と光路マネージャは、プリセット条件と反復可能な結果を確実にすることができます。ACR機能を搭載したAxio Imager.Z 2 mは、対物レンズおよび観察モードモジュールを自動的に検出および選択します。

4つの異なるホストフレームから必要なシステムを選択し、専門的なソリューションを使用してアプリケーションを拡張します。Particle Analyzer、関連する顕微鏡システム、またはLSM 700。

  特長:

超高コントラストと分解能を備えた優れた光学系

一連の電動コンポーネントとエンコードコンポーネントを利用して柔軟性を高めるモジュラー型ホスト設計

安定したホストと振動のない動作環境は、観測結果の再現性を確保することができる

Axio Imager 2は、レーザー共焦点走査顕微鏡LSM 700を用いてアップグレードされる

関連顕微鏡システムの動作および粒度解析におけるAxio Imager 2の使用

品質検査とプロセス制御において、自動化機能は繰り返し検査結果の正確さを確保することができる

  観察方法の選択:

異なる材料を研究し、検査する。金属構造、複合材料、ガラス、木材、セラミックスを分析する。ポリマーと液晶を確認します。

より豊富な情報を得るために、さまざまな観察方法を選択できます。反射光を用いて、明視野、暗場、微分干渉(DIC)、円微分干渉(C−DIC)、偏光または蛍光下でサンプルを観察した。透過光を用いて、明視野、暗場、微分干渉(DIC)、偏光または円偏光の下でサンプルを検出した。

観察モードマネージャは、Axio Imager 2の照明設定をコピーできるようにすることができます。

  優れた表面アプリケーション

Axio Imager.Z 2 mまたはAxio Imager.M 2 mはタッチスクリーンにキー操作機能を表示し、指先を使ってすべての電動コンポーネントを制御することができます。

他の制御ボタンは、焦点調整駆動装置の周辺に人間工学的に配列されており、触覚により各制御ボタンを容易に区別することができる。

Axio Imager.D 2 mには5つのプリプログラミングボタンがあり、Axio Imager.Z 2 mには10つのユーザーカスタマイズボタンがあります。

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